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NI模块扩展了PXI平台功能,降低了半导体研究分析和测试的成本

 
 


2011年8月—— National Instruments(NI)通过最新发布的引脚参数测量单元(PPMU)和源测量单元(SMU)扩展其PXI平台的功能,用于半导体表征和生产测试。带有PPMU,NI PXIe-4140和NI PXIe-4141四通道SMU的NI PXIe-6556 200 MHz高速数字I/O降低了设备成本,缩短了测试时间,并提高了各种混合信号的灵活性。测验设备。

利用NI PXIe-6556高速数字I/O模块,工程师可以生成和采集高达200 MHz的数字波形,或者在同一引脚上以1%的错误率执行直流参数测量,从而简化布线,缩短测试时间并增加DC测量参数测试仪的密度。此外,其内置定时校准功能可自动调整时序,帮助工程师消除因不同接线和线路长度引起的时序偏差。可以选择NI PXIe-6556切换到其他更精确的NI SMU,工程师可以根据硬件或软件触发器触发参数测量。

NI PXIe-4140/41 SMU模块可用于PXI Express插槽,最多可提供4个SMU通道,而4U单PXI机箱可提供多达68个SMU通道,便于测试高引脚数器件。采样率高达每秒600,000个样本,工程师可以大大缩短测量时间或获得器件的关键瞬态特性。此外,NI PXIe-4141采用新一代SourceAdapt技术,允许工程师为任何给定负载定制SMU输出,以实现最大稳定性和最短瞬态时间。传统的SMU技术不提供此功能。

结合NI LabVIEW系统设计软件,这些新的PPMU和SMU模块为半导体测试提供模块化,软件定义的测量方法,以提高质量,降低成本并减少整体测试验证,表征和生产时间。 LabVIEW具有灵活的编程语言和先进的工程工具,使工程师能够满足特定的定制要求。有关该产品的更多信息,请访问

 
 
 
 
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